Invention Publication
- Patent Title: 一种基于降噪处理的Y波导偏振特性参数测量方法
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Application No.: CN202210127678.0Application Date: 2022-02-11
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Publication No.: CN114485732APublication Date: 2022-05-13
- Inventor: 张红霞 , 李天玥 , 温国强 , 贾大功 , 刘铁根
- Applicant: 天津大学
- Applicant Address: 天津市南开区卫津路92号
- Assignee: 天津大学
- Current Assignee: 天津大学
- Current Assignee Address: 天津市南开区卫津路92号
- Main IPC: G01C25/00
- IPC: G01C25/00 ; G01C19/72 ; G06K9/00
Abstract:
本发明公开了一种基于降噪处理的Y波导偏振特性参数测量方法，步骤1、搭建保偏光纤干涉测量系统，采集保偏光纤干涉信号的扫描数据；步骤2、使用CEEMDAN算法对保偏光纤干涉信号的扫描数据进行降噪分解处理；步骤3、设置自相关系数阈值以过滤经降噪分解处理后的保偏光纤干涉分解信号分量中的噪声，并重构信号；步骤4、计算Y波导的PER值和尾纤串扰。本发明实现了Y波导分布式偏振参数测量，为高精度光纤陀螺仪的标定和检测提供依据。
Public/Granted literature
- CN114485732B 一种基于降噪处理的Y波导偏振特性参数测量方法 Public/Granted day:2023-09-26
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