Invention Grant
- Patent Title: 一种晶片颜色检测设备
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Application No.: CN202210489404.6Application Date: 2022-05-07
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Publication No.: CN114582765BPublication Date: 2022-07-08
- Inventor: 秦应化 , 刘杰杰 , 刘传磊
- Applicant: 苏州鼎纳自动化技术有限公司
- Applicant Address: 江苏省苏州市工业园区葑亭大道598号1号楼东侧
- Assignee: 苏州鼎纳自动化技术有限公司
- Current Assignee: 苏州鼎纳自动化技术有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省苏州市工业园区葑亭大道598号1号楼东侧
- Agency: 苏州翔远专利代理事务所
- Agent 陆金星
- Main IPC: H01L21/67
- IPC: H01L21/67 ; H01L21/677 ; H01L21/683
Abstract:
本发明公开的一种晶片颜色检测设备,包括:依次设置在检测设备顶部的上料模组、检测模组与下料模组,上料模组包括上料输送机构、补料输送机构与上料抓取机构;上料输送机构上设置有上料缓存机构,缓存推动机构能够将上料推送链上的晶片箱推入缓存腔室内进行缓存;检测模组包括检测支撑架以及设置在检测支撑架一侧的至少一个视觉检测机构,视觉检测机构能够对晶片进行拍照检测,检测模组还包括标记机构,当视觉检测机构检测到晶片缺陷时,通过标记机构在晶片表面进行标记,以便于对晶片进行分类;下料输送机构一侧设置有箱体输送链,箱体输送链上设置有多个储存箱,通过推动机械手将晶片箱推动至储存箱内。
Public/Granted literature
- CN114582765A 一种晶片颜色检测设备 Public/Granted day:2022-06-03
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