发明授权
- 专利标题: 用于辐照松弛检测的内应力测量装置和方法
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申请号: CN202210007319.1申请日: 2022-01-05
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公开(公告)号: CN114674464B公开(公告)日: 2023-09-22
- 发明人: 高长源 , 黄洁明 , 陈刘涛 , 崔俊宁 , 康博 , 齐宝军 , 丁宁 , 张国梁
- 申请人: 岭澳核电有限公司 , 中广核研究院有限公司 , 中国广核集团有限公司 , 中国广核电力股份有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市福田区深南大道2002号福中三路中广核大厦17层; ; ;
- 专利权人: 岭澳核电有限公司,中广核研究院有限公司,中国广核集团有限公司,中国广核电力股份有限公司
- 当前专利权人: 岭澳核电有限公司,中广核研究院有限公司,中国广核集团有限公司,中国广核电力股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市福田区深南大道2002号福中三路中广核大厦17层; ; ;
- 代理机构: 广州三环专利商标代理有限公司
- 代理商 王基才
- 主分类号: G01L1/00
- IPC分类号: G01L1/00 ; G01L1/08 ; G01L5/00
摘要:
本发明公开了一种用于辐照松弛检测的内应力测量装置,其包括:支架;以及压力测量装置,可相对于支架上下运动,压力测量装置包括基座、与基座间隔设置的滑块,以及安装于滑块上的压力传感器和压头,基座和滑块之间设有弹簧,弹簧的两端分别固定连接基座和滑块。此外,本发明还公开了一种用于辐照松弛检测的内应力测量方法。相对于现有技术,本发明用于辐照松弛检测的内应力测量装置和方法中,根据压力测量装置下降和上升过程中压头的位移、受力和弹簧的拉伸情况,可以精确计算辐照松弛样品在辐照条件和未受辐照条件下的内应力值,根据不同辐照条件的内应力值计算出对应的辐照松弛样品的辐照松弛量。
公开/授权文献
- CN114674464A 用于辐照松弛检测的内应力测量装置和方法 公开/授权日:2022-06-28