本发明公开了一种基于荧光高光谱成像的农产品品质参数检测方法及设备，属于农产品检测领域，包括：S1，采集荧光高光谱图像数据；S2，对采集数据预处理；S3，用IRIV、VISSA、MASS和RF算法对光谱图像进行特征提取，提取特征直接组合得到IVMR组合特征变量，利用VISSA算法进行特征提取得到IVMR‑VISSA特征变量，利用IRIV算法进行特征提取得到IVMR‑VISSA‑IRIV特征变量；S4，基于IVMR‑VISSA‑IRIV特征变量作为输入，构建MK‑SVR模型；S5，利用MK‑SVR模型预测农产品的内部品质参数。本发明方法准确率高，为农产品品质参数的无损检测分析提供了新的技术思路。