- 专利标题: 全场X射线荧光成像分析或X射线衍射分析装置及方法
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申请号: CN202210639893.9申请日: 2022-06-08
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公开(公告)号: CN114720496A公开(公告)日: 2022-07-08
- 发明人: 许元军 , 何泽 , 王鹏 , 黄宁 , 安竹 , 王跃 , 陈子晗
- 申请人: 四川大学
- 申请人地址: 四川省成都市一环路南一段24号
- 专利权人: 四川大学
- 当前专利权人: 四川大学
- 当前专利权人地址: 四川省成都市一环路南一段24号
- 代理机构: 成都为知盾专利代理事务所
- 代理商 李汉强
- 主分类号: G01N23/2206
- IPC分类号: G01N23/2206 ; G01N23/223 ; G01N23/20
摘要:
本发明公开了全场X射线荧光成像分析或X射线衍射分析装置及方法,所述装置包括源‑探布局切换组件、多用途准直组件、X射线源、X射线探测器、激光指示器以及计算机控制系统,源‑探布局切换组件结合多用途准直组件通过改变X射线源与X射线探测器的位置布局达到仅通过一台装置实现原本只能通过两台不同类型装置才能实现的功能效果。本发明提供的技术方案,能够在一台X射线衍射分析装置中实现全场X射线荧光成像分析,无需通过扫描即可通过同一台装置快速获得样品结晶相成分和元素分布成像信息,不仅极大提高了装置中各部件的利用率,降低了装置的器件成本,使得装置结构更加紧凑,而且极大提高了分析效率和检测精度。
公开/授权文献
- CN114720496B 实现全场X射线荧光成像分析的衍射分析装置及方法 公开/授权日:2022-08-26