氧化镓垂直场效应晶体管制备方法及场效应晶体管
摘要:
本发明适用于半导体技术领域,提供了一种氧化镓垂直场效应晶体管制备方法及场效应晶体管,上述方法包括:在氧化镓衬底的上生长氧化镓沟道层;对氧化镓沟道层进行离子注入掺杂形成源区;离子注入的深度小于氧化镓沟道层的厚度;在氧化镓沟道层上依次生长源电极层及掩膜层;对源电极层上及氧化镓沟道层上未被掩膜层覆盖的区域进行刻蚀,形成沟槽;其中,氧化镓沟道层的刻蚀深度小于氧化镓沟道层的厚度大于离子注入的深度;在沟槽及掩膜层上生长P型介质层;在P型介质层上生长栅电极层;去除掩膜层;在氧化镓衬底的下表面制备漏电极。本发明采用自对准剥离技术,通过P型介质层形成PN结,制备过程简单,降低了垂直场效应晶体管的制备难度。
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