发明公开
- 专利标题: 氧化镓垂直场效应晶体管制备方法及场效应晶体管
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申请号: CN202210470222.4申请日: 2022-04-28
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公开(公告)号: CN114743881A公开(公告)日: 2022-07-12
- 发明人: 刘宏宇 , 吕元杰 , 王元刚 , 卜爱民 , 盛百城 , 冯志红
- 申请人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 申请人地址: 河北省石家庄市合作路113号
- 专利权人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 当前专利权人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
- 当前专利权人地址: 河北省石家庄市合作路113号
- 代理机构: 石家庄国为知识产权事务所
- 代理商 刘少卿
- 主分类号: H01L21/336
- IPC分类号: H01L21/336 ; H01L29/78
摘要:
本发明适用于半导体技术领域,提供了一种氧化镓垂直场效应晶体管制备方法及场效应晶体管,上述方法包括:在氧化镓衬底的上生长氧化镓沟道层;对氧化镓沟道层进行离子注入掺杂形成源区;离子注入的深度小于氧化镓沟道层的厚度;在氧化镓沟道层上依次生长源电极层及掩膜层;对源电极层上及氧化镓沟道层上未被掩膜层覆盖的区域进行刻蚀,形成沟槽;其中,氧化镓沟道层的刻蚀深度小于氧化镓沟道层的厚度大于离子注入的深度;在沟槽及掩膜层上生长P型介质层;在P型介质层上生长栅电极层;去除掩膜层;在氧化镓衬底的下表面制备漏电极。本发明采用自对准剥离技术,通过P型介质层形成PN结,制备过程简单,降低了垂直场效应晶体管的制备难度。
IPC分类: