发明授权
- 专利标题: 代码优化方法、装置、电子设备和存储介质
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申请号: CN202210732866.6申请日: 2022-06-27
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公开(公告)号: CN114780444B公开(公告)日: 2022-09-02
- 发明人: 阮正华 , 孙文彬
- 申请人: 江苏邑文微电子科技有限公司 , 无锡邑文电子科技有限公司
- 申请人地址: 江苏省南通市如东县掘港街道金山路1号;
- 专利权人: 江苏邑文微电子科技有限公司,无锡邑文电子科技有限公司
- 当前专利权人: 江苏邑文微电子科技有限公司,无锡邑文电子科技有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省南通市如东县掘港街道金山路1号;
- 代理机构: 北京超凡宏宇专利代理事务所
- 代理商 赵兴
- 主分类号: G06F11/36
- IPC分类号: G06F11/36
摘要:
本发明提供一种代码优化方法、装置、电子设备和存储介质,其中方法包括:对目标代码进行缺陷分析,得到目标代码中存在缺陷的若干个待改进代码段以及待改进代码段的代码问题类型;基于若干个待改进代码段在目标代码中的全局影响程度,确定若干个待改进代码段的优化顺序;针对当前待改进代码段,基于当前待改进代码段的代码问题类型对应的优化插件,生成多个优化代码段以及优化代码段的基础评分;将多个优化代码段分别置于目标代码中进行功能测试,得到多个优化代码段的测试评分;基于优化代码段的基础评分和测试评分,确定最优优化代码段,并基于最优优化代码段替换当前待改进代码段。本发明可以提高半导体设备控制软件的代码稳定性和可维护性。
公开/授权文献
- CN114780444A 代码优化方法、装置、电子设备和存储介质 公开/授权日:2022-07-22