本发明属于自动化测量集成技术领域，特别提供一种基于RTOS的电子产品批量测试方法。其具有自动模式和手动模式，并可根据需要进行自主配置测试过程和循环次数。测试系统通过一个上位机，实现同时对多台待出厂设备进行性能测试和老化测试，同时能容纳的测试数量可根据需要任意设置，解决了传统批量测试系统只能固定测试数量的问题，并运行有实时操作系统，能最大程度的保护待测产品和板卡，同时利用操作系统的多任务，能提高测试效率，节省测试时间，同时通过操作系统的抢占式调度，确保实时性，为测试系统的安全提供保障。通过聚类算法对测试产品进行二分类，解决了传统测试中人为判断测试结果存在的主观因素，提高产品的出厂标准。