发明公开
摘要：
本发明涉及测量方法、测量装置、测量系统以及存储介质，测量方法包括：高通滤波处理工序，对包含漂移噪声的对象数据进行高通滤波处理，生成减少了所述漂移噪声的漂移噪声减少数据；校正数据推测工序，根据所述漂移噪声减少数据推测校正数据，所述校正数据相当于从所述对象数据除去了所述漂移噪声后的数据与所述漂移噪声减少数据之差；以及测量数据生成工序，将所述漂移噪声减少数据与所述校正数据相加而生成测量数据。
公开/授权文献
- CN114964448B 测量方法、测量装置、测量系统以及存储介质 公开/授权日：2024-01-12
