Invention Publication
- Patent Title: 测试方法、测试系统和计算机可读存储介质
-
Application No.: CN202210978784.XApplication Date: 2022-08-16
-
Publication No.: CN115048256APublication Date: 2022-09-13
- Inventor: 周斌 , 梁昭庆 , 杜君 , 白雪松 , 付利莉 , 曲胜波 , 刘冬梅 , 易玲 , 马兵
- Applicant: 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
- Applicant Address: 北京市昌平区科技园区双营西路79号院12号楼一层;
- Assignee: 北京智芯半导体科技有限公司,北京智芯微电子科技有限公司
- Current Assignee: 北京智芯半导体科技有限公司,北京智芯微电子科技有限公司
- Current Assignee Address: 北京市昌平区科技园区双营西路79号院12号楼一层;
- Agency: 北京清亦华知识产权代理事务所
- Agent 邵泳城
- Main IPC: G06F11/22
- IPC: G06F11/22

Abstract:
本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括:创建预设对象以占用目标空间,目标空间为Java卡的存储空间的至少部分;获取第一空间参数,第一空间参数为执行测试流程前目标空间中的可用空间量;在完成对目标空间的占用后,执行测试流程以回收预设对象;获取第二空间参数,第二空间参数为完成测试流程后目标空间中的可用空间量;根据第一空间参数和第二空间参数确定测试结果。上述测试方法,通过在Java卡内进行空间占用的方式来创造测试环境,并根据执行测试流程前后对应目标空间的空间参数的变化来得到测试结果,从而以测试结果来确定Java卡的垃圾回收能力,进而可评估Java卡的技术竞争力。
Public/Granted literature
- CN115048256B 测试方法、测试系统和计算机可读存储介质 Public/Granted day:2022-11-29
Information query