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公开(公告)号：CN118052241A
公开(公告)日：2024-05-17
申请号：CN202410170226.X
申请日：2024-02-06
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本发明涉及电子标签制造领域，提供一种电子标签自动发行检测装置及电子标签自动发行方法。所述装置包括：发行装置、检测装置以及电动转盘，发行装置包括射频写入模块，检测装置包括射频读取模块、条码扫描模块及检测模块，射频写入模块、射频读取模块以及条码扫描模块均固定于工作台上，电动转盘能够沿工作台顺时针或逆时针转动，电动转盘表面具有多个用于放置电子标签的夹具，在电动转盘停止转动时，多个夹具中的三个夹具上放置的电子标签分别与条码扫描模块、射频写入模块以及射频读取模块一一对应，检测模块通过多重对比检测发行信息与电子标签的编码是否匹配。本发明可兼容多种电子标签的自动发行和检测，提高电子标签发行效率。
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公开(公告)号：CN115048317A
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN202210978814.7
申请日：2022-08-16
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：在目标空间的物理存储页中创建一个能够完全占用对应的物理存储页的预设对象，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分，目标空间包括多个物理存储页；创建预设事务以对部分预设对象的内容进行更新；根据预设事务在提交后的执行情况，确定Java卡对被更新的内容的测试参数；根据测试参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内创建多个预设对象占用空间，并创建预设事务以部分更新每个预设对象的方式来创造测试环境，根据预设事务的执行情况得到的测试参数得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的事务保护能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
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公开(公告)号：CN115759168A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211472464.3
申请日：2022-11-23
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司
IPC分类号： G06K19/077
摘要： 本申请公开了一种电子标签及系统，由于电子标签中的第一信号检测器的检测距离小于第二信号检测器的检测距离，因此在读写器距离电子标签较近的情况下，该第一信号检测器和第二信号检测器均能够在检测到读写器发出的标签识别信号。逻辑电路可以响应于第一信号检测器输出的指示信号，将初始逻辑值更新为目标逻辑值，控制电路可以响应于标签识别指令，根据逻辑电路中的目标逻辑值和电子标签的标识生成识别码，并向读写器输出该识别码。由此在电子标签较多的情况下，即使读写器能够接收其他电子标签的识别码，由于该电子标签与其他电子标签输出的识别码不同，因此读写器能够准确识别出该电子标签，提高了电子标签识别的准确性。
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公开(公告)号：CN115048256A
公开(公告)日：2022-09-13
申请号：CN202210978784.X
申请日：2022-08-16
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：创建预设对象以占用目标空间，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分；获取第一空间参数，第一空间参数为执行测试流程前目标空间中的可用空间量；在完成对目标空间的占用后，执行测试流程以回收预设对象；获取第二空间参数，第二空间参数为完成测试流程后目标空间中的可用空间量；根据第一空间参数和第二空间参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内进行空间占用的方式来创造测试环境，并根据执行测试流程前后对应目标空间的空间参数的变化来得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的垃圾回收能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
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公开(公告)号：CN115048317B
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210978814.7
申请日：2022-08-16
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：在目标空间的物理存储页中创建一个能够完全占用对应的物理存储页的预设对象，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分，目标空间包括多个物理存储页；创建预设事务以对部分预设对象的内容进行更新；根据预设事务在提交后的执行情况，确定Java卡对被更新的内容的测试参数；根据测试参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内创建多个预设对象占用空间，并创建预设事务以部分更新每个预设对象的方式来创造测试环境，根据预设事务的执行情况得到的测试参数得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的事务保护能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
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公开(公告)号：CN115037485A
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN202210968570.4
申请日：2022-08-12
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本发明涉及信息安全领域，其实施方式提供了一种轻量级认证加密算法的实现方法、装置及设备。其中，一种轻量级认证加密算法的实现方法，所述轻量级认证加密算法包括S盒置换层和线性置换层，所述方法包括：获取所述S盒置换层中的S盒查找表和/或线性置换层中的异或运算；将获取的S盒查找表和/或异或运算转化为析取范式的形式；通过将所述析取范式中的逻辑运算映射为对应的逻辑器件，得到对应的逻辑电路。本发明提供的实施方式能够提升轻量级认证加密算法的执行效率，并易于专用集成电路的实现。
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公开(公告)号：CN115048256B
公开(公告)日：2022-11-29
申请号：CN202210978784.X
申请日：2022-08-16
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括：创建预设对象以占用目标空间，目标空间为Java卡的存储空间的至少部分；获取第一空间参数，第一空间参数为执行测试流程前目标空间中的可用空间量；在完成对目标空间的占用后，执行测试流程以回收预设对象；获取第二空间参数，第二空间参数为完成测试流程后目标空间中的可用空间量；根据第一空间参数和第二空间参数确定测试结果。上述测试方法，通过在Java卡内进行空间占用的方式来创造测试环境，并根据执行测试流程前后对应目标空间的空间参数的变化来得到测试结果，从而以测试结果来确定Java卡的垃圾回收能力，进而可评估Java卡的技术竞争力。
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公开(公告)号：CN115037485B
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202210968570.4
申请日：2022-08-12
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 北京智芯半导体科技有限公司
摘要： 本发明涉及信息安全领域，其实施方式提供了一种轻量级认证加密算法的实现方法、装置及设备。其中，一种轻量级认证加密算法的实现方法，所述轻量级认证加密算法包括S盒置换层和线性置换层，所述方法包括：获取所述S盒置换层中的S盒查找表和/或线性置换层中的异或运算；将获取的S盒查找表和/或异或运算转化为析取范式的形式；通过将所述析取范式中的逻辑运算映射为对应的逻辑器件，得到对应的逻辑电路。本发明提供的实施方式能够提升轻量级认证加密算法的执行效率，并易于专用集成电路的实现。
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公开(公告)号：CN218938975U
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202223137868.5
申请日：2022-11-23
申请人： 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司
摘要： 本申请公开了一种电子标签及系统，由于电子标签中的第一信号检测器的检测距离小于第二信号检测器的检测距离，因此在读写器距离电子标签较近的情况下，该第一信号检测器和第二信号检测器均能够在检测到读写器发出的标签识别信号。逻辑电路可以响应于第一信号检测器输出的指示信号，将初始逻辑值更新为目标逻辑值，控制电路可以响应于标签识别指令，根据逻辑电路中的目标逻辑值和电子标签的标识生成识别码，并向读写器输出该识别码。由此在电子标签较多的情况下，即使读写器能够接收其他电子标签的识别码，由于该电子标签与其他电子标签输出的识别码不同，因此读写器能够准确识别出该电子标签，提高了电子标签识别的准确性。
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公开(公告)号：CN207938024U
公开(公告)日：2018-10-02
申请号：CN201820507882.4
申请日：2018-04-11
申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号： G06K19/077
摘要： 本实用新型公开了一种非接触式IC卡的埋线层结构。所述非接触式IC卡的埋线层结构包括：ITO刻蚀线圈、IC芯片以及导电胶。所述ITO刻蚀线圈用于形成所述非接触式IC卡的天线。所述IC芯片与所述ITO刻蚀线圈电连接，用于通过外部读写器获取电能从而存储和处理所述非接触式IC卡的数据信息。导电胶位于所述IC芯片的下方，用于粘贴所述IC芯片以及使得所述IC芯片和所述ITO刻蚀线圈之间导电。
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