发明授权
- 专利标题: 测试方法、测试系统和计算机可读存储介质
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申请号: CN202210978814.7申请日: 2022-08-16
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公开(公告)号: CN115048317B公开(公告)日: 2022-11-29
- 发明人: 周斌 , 梁昭庆 , 杜君 , 白雪松 , 付利莉 , 曲胜波 , 刘冬梅 , 易玲 , 马兵
- 申请人: 北京智芯半导体科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司
- 申请人地址: 北京市昌平区科技园区双营西路79号院12号楼一层;
- 专利权人: 北京智芯半导体科技有限公司,北京智芯微电子科技有限公司
- 当前专利权人: 北京智芯半导体科技有限公司,北京智芯微电子科技有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市昌平区科技园区双营西路79号院12号楼一层;
- 代理机构: 北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理商 邵泳城
- 主分类号: G06F11/36
- IPC分类号: G06F11/36 ; G06F9/46
摘要:
本发明公开了一种测试方法、测试系统和计算机可读存储介质。测试方法包括:在目标空间的物理存储页中创建一个能够完全占用对应的物理存储页的预设对象,目标空间为Java卡的存储空间的至少部分,目标空间包括多个物理存储页;创建预设事务以对部分预设对象的内容进行更新;根据预设事务在提交后的执行情况,确定Java卡对被更新的内容的测试参数;根据测试参数确定测试结果。上述测试方法,通过在Java卡内创建多个预设对象占用空间,并创建预设事务以部分更新每个预设对象的方式来创造测试环境,根据预设事务的执行情况得到的测试参数得到测试结果,从而以测试结果来确定Java卡的事务保护能力,进而可评估Java卡的技术竞争力。
公开/授权文献
- CN115048317A 测试方法、测试系统和计算机可读存储介质 公开/授权日:2022-09-13