发明公开
- 专利标题: 卡件检测方法、系统、计算机程序产品及可读存储介质
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申请号: CN202210550403.8申请日: 2022-05-20
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公开(公告)号: CN115061060A公开(公告)日: 2022-09-16
- 发明人: 徐超 , 吴超 , 宋振华 , 朱效勇 , 赵芳魁 , 梁修华 , 朱小灿 , 苗延龙 , 沈阳 , 余惠敏 , 何丹 , 张伟
- 申请人: 中广核核电运营有限公司 , 中国广核集团有限公司 , 中国广核电力股份有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市福田区莲花街道福中社区深南中路中广核大厦北楼6层; ;
- 专利权人: 中广核核电运营有限公司,中国广核集团有限公司,中国广核电力股份有限公司
- 当前专利权人: 中广核核电运营有限公司,中国广核集团有限公司,中国广核电力股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市福田区莲花街道福中社区深南中路中广核大厦北楼6层; ;
- 代理机构: 深圳市瑞方达知识产权事务所
- 代理商 高瑞
- 主分类号: G01R31/40
- IPC分类号: G01R31/40 ; G01R31/28 ; G01J5/48 ; G01J5/53
摘要:
本发明涉及了一种卡件检测方法、系统、计算机程序产品及可读存储介质,该卡件检测方法包括:从红外热成像装置获取待测试的卡件在工作时的测试图像;将所述测试图像与标准图像进行比较分析,并根据比较分析结果确定异常元器件的标识;其中,所述标准图像是所述红外热成像装置对标准卡件在标准工况下工作时采集的图像;根据预先存储的卡件上的多个元器件分别所对应的标识及分别在卡件上的位置,基于所述异常元器件的标识查找异常元器件的位置。实施本发明的技术方案,检测方式简单、速度快,且可避免人为因素的损坏;另一方面,不但能检测出故障的元器件,还能检测出亚健康状态的元器件,因此,可将卡件的潜在隐患提前暴露,降低故障风险。