发明公开
- 专利标题: 一种磁粉检测标准试片磁痕评估方法
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申请号: CN202210753638.7申请日: 2022-06-29
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公开(公告)号: CN115100154A公开(公告)日: 2022-09-23
- 发明人: 邱张维佳 , 秦承鹏 , 王志强 , 李梁 , 李东江 , 王福贵 , 王强 , 陈征 , 王鹏
- 申请人: 西安热工研究院有限公司
- 申请人地址: 陕西省西安市碑林区兴庆路136号
- 专利权人: 西安热工研究院有限公司
- 当前专利权人: 西安热工研究院有限公司
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市碑林区兴庆路136号
- 代理机构: 西安通大专利代理有限责任公司
- 代理商 李红霖
- 主分类号: G06T7/00
- IPC分类号: G06T7/00 ; G06T7/11 ; G06T7/136 ; G06T7/194
摘要:
本发明公开了一种磁粉检测标准试片磁痕评估方法,包括:对标准试片磁痕图像进行切片;统计所得图像中背景的平均灰度及灰度标准差;将所得图像中背景的平均灰度及灰度标准差作为辅助图中纯白色像素的坐标集合,通过辅助图获取背景掩膜及磁痕掩膜;对背景掩膜及磁痕掩膜内的背景像素进行直方图统计,对归一化后的直方图从像素值为0处开始进行面积积分,当积分值达到预设值时,则将此时直方图的灰度值作为二值化阈值;对磁痕掩膜内的像素点进行二值化;根据磁痕显示图像内的黑色像素点计算磁痕强度,并根据磁痕强度评估磁粉检测标准试片的磁痕清晰度,该方法能够实现标准试片磁痕显示的量化评估。
公开/授权文献
- CN115100154B 一种磁粉检测标准试片磁痕评估方法 公开/授权日:2024-02-27