本发明公开了一种芯片嵌入式智能电缆的芯片读取可靠性试验方法，芯片贴附在电缆绝缘线芯、金属屏蔽层表面或非金属及金属铠装层表面，且沿着电缆长度方向上布置，相邻芯片间隔单位距离，通过测量若干个试样上芯片的最大读取距离及监控温度的对比温差满足性能要求，则判定该电缆芯片读取可靠性试验合格，否则判定为不合格。上述芯片嵌入式智能电缆的芯片读取可靠性试验方法针对的电缆内嵌入具有射频识别技术和温度传感功能的芯片，因而可模拟电缆使用环境，通过读写器读入芯片，得到最大读取距离及监控温度的对比温差，从而作为芯片可靠性读取的有效监测手段，为智能电缆行业提供了检验标准，有助于产品研发和优化。