Invention Publication
- Patent Title: 一种高信噪比图像获取装置及点扩散函数测量方法
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Application No.: CN202211195696.9Application Date: 2022-09-29
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Publication No.: CN115290301APublication Date: 2022-11-04
- Inventor: 陶佳清 , 姚富荣
- Applicant: 苏州矽行半导体技术有限公司
- Applicant Address: 江苏省苏州市高新区培源路2号微系统园2号楼106室
- Assignee: 苏州矽行半导体技术有限公司
- Current Assignee: 苏州矽行半导体技术有限公司
- Current Assignee Address: 江苏省苏州市高新区培源路2号微系统园2号楼106室
- Agency: 北京千壹知识产权代理事务所
- Agent 王玉玲
- Main IPC: G01M11/02
- IPC: G01M11/02 ; G06T7/136 ; G06T3/40 ; G06T5/00

Abstract:
本发明涉及光学显微成像技术和数字图像处理领域,提供的一种高信噪比图像获取装置及点扩散函数测量方法,该装置包括载物玻璃、补光光源模块、显微成像单元和设置在封闭腔体内的反射镜组;在图像采集装置上增加了对称的补充光源斜入射样品,并以吸光材料加持,在不增加背景噪声的情况下增加了纳米小球的散射强度,从而提高了纳米小球图像的信噪比;利用自动定位纳米小球的方法,自动剔除成团或者邻近的纳米小球,从而筛选出符合要求的单个纳米小球,用以计算显微系统的PSF,减少了人工的工作量;本发明的技术方案具有易于搭建,实现成本低,图像质量高、耗时少等特点;可以在半导体、芯片等需要高精测量和实时测量的领域推广应用。
Public/Granted literature
- CN115290301B 一种高信噪比图像获取装置及点扩散函数测量方法 Public/Granted day:2023-01-17
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