一种探测器缺陷分析方法、系统、存储介质及计算设备
摘要:
本发明公开了一种探测器缺陷分析方法、系统、存储介质及计算设备,本发明基于不同基下的单光子探测器测量结果构建考虑后脉冲和死时间的密钥率模型,根据模型实现探测器缺陷分析,可为实际环境下的量子密钥分配网络构建提供有价值的参考。
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