本发明涉及芯片测试领域，具体是涉及一种芯片测试分类机，包括：传送机构，包括有固定设置的旋转检测平台，以及呈水平状态分别固定设置于旋转检测平台两侧的进料传送带和出料传送带；定位检测机构，固定设置于旋转检测平台顶部用于对通过旋转检测平台的芯片进行检测，包括有若干定位弹出机构以及若干弹性检测机构；筛除机构，固定设置于其中一个所述的出料传送带的一侧用于将检测不合格的芯片推离出料传送带。本发明中的芯片测试分类机能够对各种不同尺寸的芯片进行快速精确的定位，大大提高了定位效率，且能够芯片传输的过程中对芯片进行检测，检测过程流畅连续，检测效率显著提高。