Invention Grant
- Patent Title: 一种自动调节物距的检测设备及其检测方法
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Application No.: CN202210852512.5Application Date: 2022-07-19
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Publication No.: CN115327740BPublication Date: 2024-08-02
- Inventor: 李志成 , 王治玺
- Applicant: 信利光电股份有限公司
- Applicant Address: 广东省汕尾市区工业大道信利工业城一区第15栋
- Assignee: 信利光电股份有限公司
- Current Assignee: 信利光电股份有限公司
- Current Assignee Address: 广东省汕尾市区工业大道信利工业城一区第15栋
- Agency: 北京德崇智捷知识产权代理有限公司
- Agent 魏杰
- Main IPC: G02B7/28
- IPC: G02B7/28 ; H04N23/67
Abstract:
本发明涉及一种自动调节物距的检测设备及其检测方法,检测设备包括对焦机构,对焦反差式画面、待测显示机构以及计算控制模块。对焦机构包括CCD、镜头和光源,还包括自动调节结构及第一固定件;对焦机构通过第一固定件固定于检测设备;对焦反差式画面中包括用于对焦的区域;待测显示机构包括载料台和图形产生单元,载料台用于放置待测显示模组;计算控制模块包括计算机和显示器;其中,对焦反差式画面由待测显示模组显示,CCD采集对焦区域的灰度值并能够通过计算控制模块进行计算,不断调整物距,寻找对焦位置。本发明将对焦技术融合于检测设备,通过自动调节对焦机构,实现待测模组物距的调整,进而达到最清晰的对焦效果,提高检测效果及准确率。
Public/Granted literature
- CN115327740A 一种自动调节物距的检测设备及其检测方法 Public/Granted day:2022-11-11
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