本发明涉及地质剖面测量技术领域，具体为一种地质剖面厚度测量装置。一种地质剖面厚度测量装置，包括底板，所述底板下端的四周设置有U型架，四个所述U型架上转动连接有转轴，所述转轴上固定有转轮，所述底板的下端设置有用于转轮升降调整的升降组件，所述底板上设置有用于各个转轴限位的第一限位组件，所述底板的上端设置有用于地质剖面厚度测量的测量组件。本发明的有益效果是：整个测量过程通过激光测距仪的测量与调整角度之间换算，可以快速的测量出地质剖面的厚度，操作简单且便捷，提高了地质剖面厚度测量的效率。