一种井下套管位置检测系统和检测方法

    公开(公告)号:CN116641700B

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202310900849.3

    申请日:2023-07-21

    IPC分类号: E21B47/09 E21B47/04

    摘要: 本发明公开了一种井下套管位置检测系统和检测方法,该系统包括:升降组件、电磁铁组件、光电计数器和主机;升降组件包括架体、电机、线缆轴、线缆;架体设在井口上方,电机的输出轴与线缆轴连接,线缆延伸出线缆轴的一端与电磁铁组件连接;线缆给下入井后的电磁铁组件供电,并带动电磁铁组件上下移动;电磁铁组件包括:电磁铁和侧面的压力传感器,电磁铁与线缆连接,压力传感器与主机电连接,并将检测到的压力信号发送给主机;光电计数器设置在井口上方并对准线缆轴,以检测线缆轴的旋转圈数;光电计数器与主机电连接,将检测的旋转圈数发送给主机;主机用于基于压力信号判断电磁铁是否吸附在套管上,并基于旋转圈数、线缆轴周长确定套管的位置。

    一种地质剖面厚度测量装置

    公开(公告)号:CN115493504A

    公开(公告)日:2022-12-20

    申请号:CN202211025356.1

    申请日:2022-08-25

    IPC分类号: G01B11/06

    摘要: 本发明涉及地质剖面测量技术领域,具体为一种地质剖面厚度测量装置。一种地质剖面厚度测量装置,包括底板,所述底板下端的四周设置有U型架,四个所述U型架上转动连接有转轴,所述转轴上固定有转轮,所述底板的下端设置有用于转轮升降调整的升降组件,所述底板上设置有用于各个转轴限位的第一限位组件,所述底板的上端设置有用于地质剖面厚度测量的测量组件。本发明的有益效果是:整个测量过程通过激光测距仪的测量与调整角度之间换算,可以快速的测量出地质剖面的厚度,操作简单且便捷,提高了地质剖面厚度测量的效率。

    一种井下套管位置检测系统和检测方法

    公开(公告)号:CN116641700A

    公开(公告)日:2023-08-25

    申请号:CN202310900849.3

    申请日:2023-07-21

    IPC分类号: E21B47/09 E21B47/04

    摘要: 本发明公开了一种井下套管位置检测系统和检测方法,该系统包括:升降组件、电磁铁组件、光电计数器和主机;升降组件包括架体、电机、线缆轴、线缆;架体设在井口上方,电机的输出轴与线缆轴连接,线缆延伸出线缆轴的一端与电磁铁组件连接;线缆给下入井后的电磁铁组件供电,并带动电磁铁组件上下移动;电磁铁组件包括:电磁铁和侧面的压力传感器,电磁铁与线缆连接,压力传感器与主机电连接,并将检测到的压力信号发送给主机;光电计数器设置在井口上方并对准线缆轴,以检测线缆轴的旋转圈数;光电计数器与主机电连接,将检测的旋转圈数发送给主机;主机用于基于压力信号判断电磁铁是否吸附在套管上,并基于旋转圈数、线缆轴周长确定套管的位置。

    一种地质剖面厚度测量装置

    公开(公告)号:CN115493504B

    公开(公告)日:2023-04-21

    申请号:CN202211025356.1

    申请日:2022-08-25

    IPC分类号: G01B11/06

    摘要: 本发明涉及地质剖面测量技术领域,具体为一种地质剖面厚度测量装置。一种地质剖面厚度测量装置,包括底板,所述底板下端的四周设置有U型架,四个所述U型架上转动连接有转轴,所述转轴上固定有转轮,所述底板的下端设置有用于转轮升降调整的升降组件,所述底板上设置有用于各个转轴限位的第一限位组件,所述底板的上端设置有用于地质剖面厚度测量的测量组件。本发明的有益效果是:整个测量过程通过激光测距仪的测量与调整角度之间换算,可以快速的测量出地质剖面的厚度,操作简单且便捷,提高了地质剖面厚度测量的效率。