发明公开
CN115568227A 半导体封装
审中-实审
- 专利标题: 半导体封装
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申请号: CN202210785277.4申请日: 2022-06-29
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公开(公告)号: CN115568227A公开(公告)日: 2023-01-03
- 发明人: 朴建相 , 李圭夏 , 李荣敏 , 金石镐 , 李仁荣 , 郑锡焕 , 赵星东
- 申请人: 三星电子株式会社
- 申请人地址: 韩国京畿道
- 专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人: 三星电子株式会社
- 当前专利权人地址: 韩国京畿道
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 吴晓兵; 倪斌
- 优先权: 10-2021-0087242 20210702 KR
- 主分类号: H10B80/00
- IPC分类号: H10B80/00 ; H01L25/18 ; H01L23/373 ; H01L23/544
摘要:
一种半导体封装,包括:第一结构,包括第一绝缘层和穿透所述第一绝缘层的第一接合焊盘;以及第二结构,在所述第一结构上,所述第二结构包括:第二绝缘层,被接合到所述第一绝缘层;接合焊盘结构,穿透所述第二绝缘层,被接合到所述第一接合焊盘;以及测试焊盘结构,穿透所述第二绝缘层,所述测试焊盘结构包括:测试焊盘,在穿透所述第二绝缘层的开口中,并且所述测试焊盘具有带有平坦表面的突出部;以及接合层,填充所述开口并且覆盖所述测试焊盘和所述平坦表面,所述测试焊盘的所述突出部从与所述接合层接触的表面延伸,所述突出部的所述平坦表面在所述开口之中并且与所述接合层和所述第一绝缘层之间的界面间隔开。