发明授权
- 专利标题： 一种多背板架构的ATE测试设备
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申请号： CN202211093549.0申请日： 2022-09-08
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公开(公告)号： CN115575792B公开(公告)日： 2023-06-30
- 发明人: 张九六 , 胡建仁
- 申请人： 杭州国磊半导体设备有限公司
- 申请人地址： 浙江省杭州市拱墅区花园岗街318号402室
- 专利权人： 杭州国磊半导体设备有限公司
- 当前专利权人： 杭州国磊半导体设备有限公司
- 当前专利权人地址： 浙江省杭州市拱墅区花园岗街318号402室
- 代理机构： 北京知汇林知识产权代理事务所
- 代理商 叶晨晖
- 主分类号： G01R31/28
- IPC分类号： G01R31/28 ; G06F13/38 ; G06F13/40 ; G06F13/42
摘要：
本发明公开了一种多背板架构的ATE测试设备，属于计算机技术领域，多背板架构的ATE测试设备包括：PCIE扩展板，用于将计算机连接的PCIE总线扩展成N个PCIE接口，通信背板，用于传输信号，测试功能板组，用于提供ATE测试所需的功能，接口转接板，用于提供与待测芯片的接口，N个PCIE接口通过通信背板与测试功能板组的PCIE接口连接，测试功能板组与接口转接板连接，以使测试功能板组通过接口转接板测试待测芯片。
公开/授权文献
- CN115575792A 一种多背板架构的ATE测试设备 公开/授权日：2023-01-06
