发明公开
CN115641437A 工业缺陷实例分割方法
审中-实审
- 专利标题: 工业缺陷实例分割方法
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申请号: CN202211293698.1申请日: 2022-10-21
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公开(公告)号: CN115641437A公开(公告)日: 2023-01-24
- 发明人: 白翔 , 杨子豪 , 罗东亮 , 章哲彦 , 蔡雨萱 , 周瑜 , 郑增强 , 刘荣华
- 申请人: 华中科技大学 , 武汉精测电子集团股份有限公司 , 武汉精立电子技术有限公司
- 申请人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号; ;
- 专利权人: 华中科技大学,武汉精测电子集团股份有限公司,武汉精立电子技术有限公司
- 当前专利权人: 华中科技大学,武汉精测电子集团股份有限公司,武汉精立电子技术有限公司
- 当前专利权人地址: 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号; ;
- 代理机构: 深圳市六加知识产权代理有限公司
- 代理商 向彬
- 主分类号: G06V10/26
- IPC分类号: G06V10/26 ; G06V10/40 ; G06V10/82 ; G06V10/77 ; G06V10/80 ; G06V10/25 ; G06V10/764 ; G06V10/766 ; G06V10/28 ; G06N3/0464 ; G06N3/08 ; G06T7/00
摘要:
本发明公开了一种工业缺陷实例分割方法。所述方法包括以下步骤:训练时不固定特征提取网络的浅层网络参数,以保证在开源自然实例数据集上得到的预训练网络能更好地拟合到工业缺陷实例,对工业缺陷实例进行有效的特征提取;使用级联缺陷区域建议模块,避免了从自然实例分割任务迁移到工业缺陷实例分割任务进行的大量参数调整,采用了多次候选框优化的机制提高了算法精度;提出了自适应分割质量评估探头,该模块能根据分割结果生成自适应的分割阈值进行分割结果的二值化,并对分割结果进行打分,解决了实例分割打分偏高的问题。以上设计使得本发明能够有效地解决工业缺陷实例分割问题。