- 专利标题: 一种磁层系统软X射线光子数极大值检测方法
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申请号: CN202211432905.7申请日: 2022-11-16
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公开(公告)号: CN115641441B公开(公告)日: 2023-05-02
- 发明人: 张玉洁 , 牛文龙 , 孙天然 , 彭晓东 , 芦文龙
- 申请人: 中国科学院国家空间科学中心
- 申请人地址: 北京市怀柔区京密北二街中国科学院国家空间科学中心
- 专利权人: 中国科学院国家空间科学中心
- 当前专利权人: 中国科学院国家空间科学中心
- 当前专利权人地址: 北京市怀柔区京密北二街中国科学院国家空间科学中心
- 代理机构: 北京方安思达知识产权代理有限公司
- 代理商 陈琳琳; 武玥
- 主分类号: G06V10/26
- IPC分类号: G06V10/26 ; G06V10/774 ; G06V10/80 ; G06V10/82 ; G06F30/27 ; G06F30/28 ; G06N3/04 ; G06N3/08 ; G06F113/08 ; G06F119/14
摘要:
本发明涉及空间技术领域,具体涉及一种磁层系统软X射线光子数极大值检测方法,该方法包括:采集不同太阳风密度下的磁层系统软X射线光子数数据,经预处理后输入预先建立并训练好的语义分割网络模型中,获得磁层系统软X射线光子数的分类,进而提取磁层系统软X射线光子数极大值的位置;所述语义分割网络模型,通过对DeepLabV3+网络结构改进得到,改进包括:将DeepLabV3+的主干网络Xception改为Mobilenetv2,并在Mobilenetv2网络中引入CA注意力机制,更改DeepLabV3+特征融合模块中空洞卷积的空洞率组合,并在特征融合模块中加入可变形卷积分支度。
公开/授权文献
- CN115641441A 一种磁层系统软X射线光子数极大值检测方法 公开/授权日:2023-01-24