本发明实施例提出的平凸柱面透镜的检测方法和线性光源的检测方法，能以较高的效率拣选出批量的具有较好的一致性的该线性光源6和该平凸柱面透镜7，能够有效改善照明效果不一致的状况，尽可能地确保在不同的设备中，同一物体在相机中成像的一致性，从而针对同一对象的检测结果的差异性不会过大，减少不良检测对象进入下道工序。本发明实施例提出的平凸柱面透镜夹具和应用了该平凸柱面透镜夹具的测量台，为非标的线性光源6和平凸柱面透镜7提供了在半导体、面板行业，或其他产业的Defect高精度(微米，甚至纳米级)量测、检测等领域中能够直接适用的检验方法和装置，能获得可靠的验收依据，推动了相关领域的标准化的发展进程。