发明公开
- 专利标题: 一种陶瓷型芯开孔隙率测试设备及其测试方法
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申请号: CN202211624793.5申请日: 2022-12-16
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公开(公告)号: CN115791567A公开(公告)日: 2023-03-14
- 发明人: 李金国 , 李乔磊 , 张光睿 , 梁静静 , 周亦胄 , 孙晓峰
- 申请人: 中国科学院金属研究所
- 申请人地址: 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号
- 专利权人: 中国科学院金属研究所
- 当前专利权人: 中国科学院金属研究所
- 当前专利权人地址: 辽宁省沈阳市沈河区文化路72号
- 代理机构: 北京煦润律师事务所
- 代理商 殷爱钧; 梁永芳
- 主分类号: G01N15/08
- IPC分类号: G01N15/08
摘要:
本发明提供一种陶瓷型芯开孔隙率测试设备及其测试方法,陶瓷型芯开孔隙率测试设备包括:第一称重结构、第二称重结构和数据处理‑显示模块,所述第一称重结构设置于空气中,所述第二称重结构设置于溶液中,陶瓷型芯样品能够依次经过所述第一称重结构称重、所述第二称重结构称重和所述第一称重结构称重,所述数据处理‑显示模块能够根据检测出的多个重量进行计算以获得所述陶瓷型芯样品的开孔隙率W。根据本发明能够准确且高效地获得陶瓷样品的孔隙率,设备高度集成化,操作规范化,测试结果稳定性高、误差小、操作简单、测试速度快。