发明公开
- 专利标题: 一种纳米颗粒受气流的曳力测量装置及方法
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申请号: CN202211523345.6申请日: 2022-12-01
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公开(公告)号: CN115855753A公开(公告)日: 2023-03-28
- 发明人: 常刘勇 , 张承林 , 陈龙飞 , 钟生辉 , 朱美印 , 徐征 , 张斌 , 李光泽 , 马晓燕
- 申请人: 北京航空航天大学杭州创新研究院
- 申请人地址: 浙江省杭州市滨江区长河街道创慧街18号
- 专利权人: 北京航空航天大学杭州创新研究院
- 当前专利权人: 北京航空航天大学杭州创新研究院
- 当前专利权人地址: 浙江省杭州市滨江区长河街道创慧街18号
- 代理机构: 北京高沃律师事务所
- 代理商 常祖正
- 主分类号: G01N15/00
- IPC分类号: G01N15/00
摘要:
本发明提供一种纳米颗粒受气流的曳力测量装置及方法,属于纳米颗粒监测领域,曳力测量装置包括:试验仓;气流产生部件,用于将过饱和蒸汽气流送入试验仓内;纳米颗粒产生部件,用于将纳米颗粒送入试验仓内;激光产生部件,用于向试验仓内发射第一激光,以在试验舱内产生光阱;纳米颗粒被光阱捕捉使得纳米颗粒在试验仓内悬浮;第一激光经过纳米颗粒后形成第二激光;探测部件,用于根据第二激光确定纳米颗粒的位置;曳力确定部件,用于根据纳米颗粒的位置、第一激光的功率,确定过饱和蒸汽气流对纳米颗粒的曳力。使用光镊技术非接触捕获发生异质凝结的纳米颗粒,避免了机械臂与颗粒的接触,提高了气流对发生异质凝结纳米颗粒的曳力的测量精度。