发明公开
- 专利标题: 射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质
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申请号: CN202110932798.3申请日: 2021-08-13
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公开(公告)号: CN115913421A公开(公告)日: 2023-04-04
- 发明人: 庄言春 , 杨华 , 张飞越 , 吕婧任 , 金鹤飞 , 赵志勇 , 冯卫东 , 吴健
- 申请人: 中兴通讯股份有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦
- 专利权人: 中兴通讯股份有限公司
- 当前专利权人: 中兴通讯股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦
- 代理机构: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司
- 代理商 马瑞
- 主分类号: H04B17/354
- IPC分类号: H04B17/354 ; H04B17/309
摘要:
本发明实施例涉及通信技术领域,公开了一种射频指标测量方法,包括:确定目标阵列天线的瑞利分辨率;根据所述瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定所述目标阵列天线在球坐标系的采样点;测量所述目标阵列天线在所述采样点的EIRP;根据所述EIRP和所述归一化波矢空间算法计算得到所述目标阵列天线的射频指标。本发明实施例还公开了一种射频指标测量装置、系统、电子设备及存储介质。本发明实施例提供的射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质,可以提高测量阵列天线的ACLR和杂散的效率。