公开(公告)号：CN112083234B

公开(公告)日：2024-06-11

申请号：CN201910517592.7

申请日：2019-06-14

申请人： 中兴通讯股份有限公司

发明人： 高华 ,  庄言春 ,  杨华 ,  金鹤飞 ,  赵俊飞 ,  张飞越

IPC分类号： G01R29/10

摘要： 本发明实施例提供一种阵列天线总辐射功率测量方法、装置以及计算机存储介质，通过将待测的阵列天线进行分区，使在阵列天线总辐射功率测量过程中，采样点的点数减少，在某些实施过程中可以大大地提升测试效率。

公开(公告)号：CN112083234A

公开(公告)日：2020-12-15

申请号：CN201910517592.7

申请日：2019-06-14

申请人： 中兴通讯股份有限公司

发明人： 高华 ,  庄言春 ,  杨华 ,  金鹤飞 ,  赵俊飞 ,  张飞越

IPC分类号： G01R29/10

摘要： 本发明实施例提供一种阵列天线总辐射功率测量方法、装置以及计算机存储介质，通过将待测的阵列天线进行分区，使在阵列天线总辐射功率测量过程中，采样点的点数减少，在某些实施过程中可以大大地提升测试效率。

公开(公告)号：CN115913421A

公开(公告)日：2023-04-04

申请号：CN202110932798.3

申请日：2021-08-13

申请人： 中兴通讯股份有限公司

发明人： 庄言春 ,  杨华 ,  张飞越 ,  吕婧任 ,  金鹤飞 ,  赵志勇 ,  冯卫东 ,  吴健

IPC分类号： H04B17/354 ,  H04B17/309

摘要： 本发明实施例涉及通信技术领域，公开了一种射频指标测量方法，包括：确定目标阵列天线的瑞利分辨率；根据所述瑞利分辨率和归一化波矢空间算法确定所述目标阵列天线在球坐标系的采样点；测量所述目标阵列天线在所述采样点的EIRP；根据所述EIRP和所述归一化波矢空间算法计算得到所述目标阵列天线的射频指标。本发明实施例还公开了一种射频指标测量装置、系统、电子设备及存储介质。本发明实施例提供的射频指标测量方法、装置、系统、电子设备及存储介质，可以提高测量阵列天线的ACLR和杂散的效率。