本申请提供一种多层PCB涨缩检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取当前PCB叠构数据；根据当前PCB叠构数据在已建好的历史涨缩数据库，通过涨缩匹配规则查找符合涨缩匹配规则的历史PCB叠构数据；历史涨缩数据库存储有历史PCB叠构数据以及对应的压合前后的涨缩数据；若找到符合涨缩匹配规则的历史PCB叠构数据，则利用对应的涨缩数据，对多层PCB进行调整优化；若找不到符合涨缩匹配规则的历史PCB叠构数据，则将当前PCB叠构数据输入预先训练好的神经网络模型中，得到预测涨缩数据，并利用预测涨缩数据，对多层PCB进行调整优化。这样，可以提高检测涨缩数据的准确性和产品质量的稳定性。