本发明为一种光耦驱动能力测试方法及系统，选取待测试光耦U2放置测试系统的测试位，选取光耦标准件U1，放置在标准参考位；向待测试光耦U2与光耦标准件U1的输入侧施加测试电压Vin；向光耦标准件U1和待测试光耦U2输出侧的集电极施加输出侧电压Vdd；将光耦标准件U1和待测试光耦U2输出侧的发射极的电流Ic1和电流Ic2转换为电压Vc1和电压Vc2；将转换后的电压Vc1和电压Vc2输送至逻辑处理模块进行合并，逻辑处理模块输出电压Vout；将电压Vout与电压Vc1传输至波形分析单元，对电压Vout的占空比Dout与电压Vc1的占空比Dc1进行对比分析。提高了测试光耦在处理数字信号效率的准确性，具有稳定性强，结果直观，可调控性强的特点。