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公开(公告)号：CN115980502A
公开(公告)日：2023-04-18
申请号：CN202310267834.8
申请日：2023-03-20
申请人： 宁波群芯微电子股份有限公司
摘要： 本发明为一种光耦驱动能力测试方法及系统，选取待测试光耦U2放置测试系统的测试位，选取光耦标准件U1，放置在标准参考位；向待测试光耦U2与光耦标准件U1的输入侧施加测试电压Vin；向光耦标准件U1和待测试光耦U2输出侧的集电极施加输出侧电压Vdd；将光耦标准件U1和待测试光耦U2输出侧的发射极的电流Ic1和电流Ic2转换为电压Vc1和电压Vc2；将转换后的电压Vc1和电压Vc2输送至逻辑处理模块进行合并，逻辑处理模块输出电压Vout；将电压Vout与电压Vc1传输至波形分析单元，对电压Vout的占空比Dout与电压Vc1的占空比Dc1进行对比分析。提高了测试光耦在处理数字信号效率的准确性，具有稳定性强，结果直观，可调控性强的特点。
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公开(公告)号：CN115980502B
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN202310267834.8
申请日：2023-03-20
申请人： 宁波群芯微电子股份有限公司
摘要： 本发明为一种光耦驱动能力测试方法及系统，选取待测试光耦U2放置测试系统的测试位，选取光耦标准件U1，放置在标准参考位；向待测试光耦U2与光耦标准件U1的输入侧施加测试电压Vin；向光耦标准件U1和待测试光耦U2输出侧的集电极施加输出侧电压Vdd；将光耦标准件U1和待测试光耦U2输出侧的发射极的电流Ic1和电流Ic2转换为电压Vc1和电压Vc2；将转换后的电压Vc1和电压Vc2输送至逻辑处理模块进行合并，逻辑处理模块输出电压Vout；将电压Vout与电压Vc1传输至波形分析单元，对电压Vout的占空比Dout与电压Vc1的占空比Dc1进行对比分析。提高了测试光耦在处理数字信号效率的准确性，具有稳定性强，结果直观，可调控性强的特点。
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公开(公告)号：CN113806269B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202111072077.6
申请日：2021-09-14
申请人： 宁波群芯微电子股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种USB端口恒压供电电路，其包括USB恒压模块，所述USB恒压模块包括第一电压检测模块和第二电压检测模块，所述USB恒压模块的电源输出端与目标负载的电源输入端连接，所述第一电压检测模块的第一检测线与目标负载的电源输入端连接；所述USB恒压模块的接地端与目标负载的接地输出端连接，所述第二电压检测模块的第二检测线与目标负载的接地输出端连接，实现了自动将负载两端的端电压控制在5V，保证USB供电的输出电压恒定。
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公开(公告)号：CN116027159B
公开(公告)日：2023-08-25
申请号：CN202310111642.8
申请日：2023-01-30
申请人： 宁波群芯微电子股份有限公司
摘要： 本申请为一种光耦耐压品控方法和一种光耦耐压测试电路，选择待测试光耦U1放置在指定位置，接通开关K1对所述光耦U1的输出侧接入触发脉冲源，对光耦U1的输出端逐级提高测试电压输入，每级电压输入先输入第一测试电压脉冲，经过延时后，输入标准测试电压；当输入第一测试电压时，对所述光耦U1输出侧的电学指标进行分析，若光耦U1输出侧的指标数据正常，则继续执行标准测试电压的输入，否则，中断测试，取该等级第一测试电压的数值，并作为电压数值作为光耦U1的耐压值。应用本方案，可以准确测得每一个光耦的耐压值，并不损害光耦，可以满足不同精度实验产品的要求。
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公开(公告)号：CN116027159A
公开(公告)日：2023-04-28
申请号：CN202310111642.8
申请日：2023-01-30
申请人： 宁波群芯微电子股份有限公司
摘要： 本申请为一种光耦耐压品控方法和一种光耦耐压测试电路，选择待测试光耦U1放置在指定位置，接通开关K1对所述光耦U1的输出侧接入触发脉冲源，对光耦U1的输出端逐级提高测试电压输入，每级电压输入先输入第一测试电压脉冲，经过延时后，输入标准测试电压；当输入第一测试电压时，对所述光耦U1输出侧的电学指标进行分析，若光耦U1输出侧的指标数据正常，则继续执行标准测试电压的输入，否则，中断测试，取该等级第一测试电压的数值，并作为电压数值作为光耦U1的耐压值。应用本方案，可以准确测得每一个光耦的耐压值，并不损害光耦，可以满足不同精度实验产品的要求。
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公开(公告)号：CN218350912U
公开(公告)日：2023-01-20
申请号：CN202221106039.8
申请日：2022-05-09
申请人： 宁波群芯微电子股份有限公司
IPC分类号： G07C9/20
摘要： 本实用新型公开了一种自动ESD检测门禁电路系统其包括ESD检测盒信号接入隔离模块、读卡器信号接入隔离模块、工控机模块和MCU主控电路模块，所述读卡器信号接入隔离模块与所述MCU主控电路模块连接，用于输出卡号信号至所述MCU主控电路模块检测；所述ESD检测盒信号接入隔离模块与所述MCU主控电路模块连接，用于输出ESD检测的门禁灯信号至所述MCU主控电路模块检测；所述工控机模块与所述MCU主控电路模块连接，用于接收所述MCU主控电路模块检测后转码输出的卡号和ESD检测结果并显示。最终实现信息一目了然便于查阅，使得车间进出管理变得信息化、专业化，让管理更加合理合规和更高效。
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