发明公开
CN116163009A 生长碳化硅单晶的方法
审中-实审
- 专利标题: 生长碳化硅单晶的方法
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申请号: CN202111403566.5申请日: 2021-11-24
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公开(公告)号: CN116163009A公开(公告)日: 2023-05-26
- 发明人: 陈小龙 , 杨乃吉 , 李辉 , 王文军
- 申请人: 中国科学院物理研究所
- 申请人地址: 北京市海淀区中关村南三街8号
- 专利权人: 中国科学院物理研究所
- 当前专利权人: 中国科学院物理研究所
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区中关村南三街8号
- 代理机构: 北京泛华伟业知识产权代理有限公司
- 代理商 郭广迅
- 主分类号: C30B23/02
- IPC分类号: C30B23/02 ; C30B29/36 ; C30B33/02
摘要:
本发明提供一种生长碳化硅单晶的方法,其包括如下步骤:(1)将原料装配于用于碳化硅单晶生长的装置内;(2)将所述装置放置于单晶生长炉中感应线圈中;(3)然后,采用第一保护性气体进行洗炉,并控制生长炉的真空度;(4)然后,在第二保护性气体的存在下,通过控制所述装置内压强和温度进行碳化硅单晶生长;(5)待碳化硅单晶生长完成后,对所述装置进行退火;待所述装置冷却至室温,得到碳化硅单晶。本发明的方法可以生长大尺寸如8英寸以上的SiC单晶。本发明的方法可以增加SiC晶体生长中原料利用率,降低生长SiC单晶中原料的用量,并且降低生长成本。