发明公开
- 专利标题: 一种治具校准装置及校准方法
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申请号: CN202310122423.X申请日: 2023-02-16
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公开(公告)号: CN116295003A公开(公告)日: 2023-06-23
- 发明人: 牛聪 , 王奕杰 , 徐王磊 , 何洪鑫 , 赵芳
- 申请人: 苏州艾微视图像科技有限公司
- 申请人地址: 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区若水路388号F102-1室
- 专利权人: 苏州艾微视图像科技有限公司
- 当前专利权人: 苏州艾微视图像科技有限公司
- 当前专利权人地址: 江苏省苏州市中国(江苏)自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区若水路388号F102-1室
- 代理机构: 苏州市中南伟业知识产权代理事务所
- 代理商 陈华红子
- 主分类号: G01B11/00
- IPC分类号: G01B11/00
摘要:
本发明涉及一种治具校准装置及校准方法,包括半透半反射模组、激光发射模组、反射模组、光斑分析模组和治具基准模组,激光发射模组发射的激光经半透半反射模组和发射模组反射后分别经过一个治具,通过在治具上设置治具基准模组作为参照来调整治具的位置和姿态,使光束能够穿过治具上的治具基准模组射向对应的光斑分析仪,同时确保在治具基准模组处反射回去的部分光线能够沿原光路返回,治具校准完成。本发明的治具校准装置及校准方法通过光学原理对治具进行校准,具有很高的定位精确性,能够保证不同工位的治具之间的相对位置和治具姿态保持一致,不受产品的外形和光学参数的限制,具有较高的通用性,且安装及调试简便,提高了生产的效率。
公开/授权文献
- CN116295003B 一种治具校准装置及校准方法 公开/授权日:2023-12-01