发明公开
- 专利标题: 基于反卷积方法的穿透散射介质量子成像系统
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申请号: CN202310182312.8申请日: 2023-03-01
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公开(公告)号: CN116337818A公开(公告)日: 2023-06-27
- 发明人: 张子静 , 李家欢 , 赵远 , 宋杰
- 申请人: 哈尔滨工业大学
- 申请人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人: 哈尔滨工业大学
- 当前专利权人地址: 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
- 代理机构: 哈尔滨市松花江联合专利商标代理有限公司
- 代理商 张利明
- 主分类号: G01N21/55
- IPC分类号: G01N21/55 ; G01N21/01 ; G01S17/89 ; G01S7/48 ; A61B5/00 ; G02B27/00 ; G06N3/0464 ; G06N3/084
摘要:
基于反卷积方法的穿透散射介质量子成像系统,属于光学成像领域,本发明为解决量子成像受到散射介质干扰而发生图像畸变的问题。本发明包括光束发射部、光束接收部和散射介质;光束发射部发射的光束经散射介质到达成像目标表面,再从成像目标表面反射穿透散射介质,回波光束被接收光学部接收并成像;首先,光束发射部利用空间光调制器调制产生点源光束,光束接收部获得穿透散射介质量子成像系统的点扩散函数;然后,光束发射部利用空间光调制器调制产生轨道角动量光束,光束接收部获得穿透散射介质量子成像系统的畸变图像;将点扩散函数和畸变图像一起输入到反卷积模块中解算,重建出隐藏在散射介质后面的目标图像。