芯片时钟网络延时交叉验证测试方法
摘要:
本发明涉及一种芯片时钟网络延时交叉验证测试方法,涉及芯片测试技术领域,通过将测试向量输入至N颗同批次、同型号的待测芯片;控制OCC电路At‑speed模式提供的时钟信号作为待测芯片内各触发器的控制时钟;将来自各待测芯片的触发器输出信号进行异或运算,实现批量交叉验证。
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