• 专利标题: 落料状态及物位波动状态检测用复合微波雷达测量系统
  • 申请号: CN202310550778.9
    申请日: 2023-05-16
  • 公开(公告)号: CN116500609A
    公开(公告)日: 2023-07-28
  • 发明人: 呼秀山李圆圆
  • 申请人: 北京锐达仪表有限公司
  • 申请人地址: 北京市大兴区北京市北京经济技术开发区(通州)中关村科技园区通州园金桥科技产业基地景盛南四街15号92B
  • 专利权人: 北京锐达仪表有限公司
  • 当前专利权人: 北京锐达仪表有限公司
  • 当前专利权人地址: 100744 北京市大兴区北京经济技术开发区(通州)中关村科技园区通州园金桥科技产业基地景盛南四街15号92B
  • 主分类号: G01S13/88
  • IPC分类号: G01S13/88 G01S7/02
落料状态及物位波动状态检测用复合微波雷达测量系统
摘要:
本申请提供了一种落料状态及物位波动状态检测用复合微波雷达测量系统,包括:信号收发模块,用于发射固频微波信号和连续调频微波信号,及接收多普勒信号和测距回波信号并上传至测量模块;测量模块,用于根据控制模块下发的固定频率信号和连续调频信号生成固频微波信号和连续调频微波信号并下发至信号收发模块,及接收多普勒信号和测距回波信号并上传至控制模块;控制模块,用于交替生成固定频率信号和连续调频信号,及根据多普勒信号和测距回波信号的特征信息解析出落料状态、物位波动状态和/或物位距离。本申请解决了现有雷达测量系统难以获得高精度物位值和容器的落料状态的问题,不仅能获取精密物位距离,还能识别出落料状态及物位波动状态。
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