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公开(公告)号：CN118424411A
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN202410681558.4
申请日：2024-05-29
申请人： 北京锐达仪表有限公司
IPC分类号： G01F1/86
摘要： 本申请公开了具有补偿校准功能的环保型物料质量流量测量设备及系统，涉及物料测量技术领域。设备包括多方位轮廓提取装置、辐射检测装置和控制装置；多方位轮廓提取装置、辐射检测装置均与控制装置连接；多方位轮廓提取装置至少用于获取物料在预设时间段内的第一方向上的位移数据和第二方向上的轮廓数据；辐射检测装置至少用于获取物料在任一截面上的密度分布数据；控制装置至少用于根据预设时间段内的位移数据、轮廓数据和密度分布数据以及与具有补偿校准功能的环保型物料质量流量测量设备相适配的物料传送装置的特征参数，计算出物料在预设时间段内的质量流量和/或体积流量。上述方案，至少能够提高对物料的质量流量检测精度。
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公开(公告)号：CN118376632A
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202410682727.6
申请日：2024-05-29
申请人： 北京锐达仪表有限公司
摘要： 本申请公开了一种具有补偿校准功能的复合型物料检测系统。该系统包括：物料检测装置10，至少用于对物料传送系统传输的待检测物料执行检测，得到待检测物料的初始检测参数；控制器20，设置在物料检测装置10内部，或者，设置在物料检测装置10外部并与物料检测装置10通信连接，至少用于接收初始检测参数，根据物料补偿参数补偿初始检测参数，得到目标检测参数，并基于目标检测参数以及物料特征模型确定待检测物料的含水率，物料特征模型至少用于表征物料的检测参数和含水率之间的映射关系。通过本申请，解决了相关技术中含水物料检测装置的测量误差较大，测量精度偏低的问题。
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公开(公告)号：CN117590452B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202311710117.4
申请日：2023-12-13
申请人： 北京锐达仪表有限公司
摘要： 本申请提供了一种具有能谱自修正功能的同位素仪表，同位素仪表包括至少一个放射探测装置；放射探测装置至少用于检测并根据至少一个能量的射线粒子形成至少一个脉冲信号，通过分析脉冲信号得到对应的射线粒子的能量信息，每个射线粒子的能量信息对应一个能量值，进而统计预设时间段内每个能量值上累计的射线粒子的数量，以得到能谱曲线。本申请提供的同位素仪表基于辐射检测原理可实现非接触式测量，仪表整体或部分无需置于高温等复杂工况下，延长了仪表的使用寿命；本申请通过分析获得射线粒子的能量信息，并根据射线粒子不同的能量值进行归类计数，统计形成具有更高精度的能谱曲线，有利于提高仪表的测量精度，并提升仪表的性能以及灵敏度。
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公开(公告)号：CN117590452A
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN202311710117.4
申请日：2023-12-13
申请人： 北京锐达仪表有限公司
摘要： 本申请提供了一种具有能谱自修正功能的同位素仪表，同位素仪表包括至少一个放射探测装置；放射探测装置至少用于检测并根据至少一个能量的射线粒子形成至少一个脉冲信号，通过分析脉冲信号得到对应的射线粒子的能量信息，每个射线粒子的能量信息对应一个能量值，进而统计预设时间段内每个能量值上累计的射线粒子的数量，以得到能谱曲线。本申请提供的同位素仪表基于辐射检测原理可实现非接触式测量，仪表整体或部分无需置于高温等复杂工况下，延长了仪表的使用寿命；本申请通过分析获得射线粒子的能量信息，并根据射线粒子不同的能量值进行归类计数，统计形成具有更高精度的能谱曲线，有利于提高仪表的测量精度，并提升仪表的性能以及灵敏度。
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公开(公告)号：CN116818813B
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202310609848.3
申请日：2023-05-29
申请人： 北京锐达仪表有限公司
IPC分类号： G01N23/06
摘要： 本申请提供了一种用于检测密度、浓度的多能量高精密辐射装置，辐射装置包括至少一个探测器、辐射生成器和主控制器；辐射生成器用于生成并射出具有N种不同能量值的目标辐射波束；探测器用于检测接收辐射波束形成辐射测量信息；主控制器用于接收并根据探测器传输的辐射测量信息，至少获得Q个密度信息和/或浓度信息，进而计算出介质的精确密度值和/或精确浓度值。本申请中的目标辐射波束具有N种不同能量值，即使具有上述N种能量值中的一种或多种目标辐射波束的信号强度不足或信号衰减程度过高，还存在具有其他能量值的目标辐射波束可供使用，有利降低辐射装置的测量误差，提升辐射装置的测量精度及稳定性。
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公开(公告)号：CN116953694B
公开(公告)日：2024-01-02
申请号：CN202310692650.6
申请日：2023-06-13
申请人： 北京锐达仪表有限公司
摘要： 本申请提供了一种回转窑内全方位高分辨率扫描装置，扫描装置包括至少一个雷达扫描仪、机械臂系统、主控制器和转动角度传感模块；主控制器用于控制机械臂系统带着雷达扫描仪运动至识别端口的预设位置，以及至少获取并根据雷达扫描仪回传的各个回波信号特征及对应的各个工作角度、预设位置和转动角度传感模块获取的筒体的转动角度，得到筒体的内壁表面的空间信息并进行呈现，进而对回转窑的异常情况进行识别。本申请能够在线对回转窑内部执行全方位扫描，并对回转窑内部情况进行高精度识别和呈现，一旦回转窑内出现耐磨层脱落等异常状况，用户可以通过扫描装置呈现的筒体内壁表面的空间信息及时获知上述异常状况，进而提早采取针对性解决措施。
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公开(公告)号：CN116500610A
公开(公告)日：2023-07-28
申请号：CN202310550923.3
申请日：2023-05-16
申请人： 北京锐达仪表有限公司
摘要： 本申请提供一种具有容器状态识别和分时测量功能的高精度3D扫描雷达，包括第一测量模块、第二测量模块、机械运动模块和控制模块；机械运动模块用于执行至少一个维度上的机械运动；第一/第二测量模块装配在机械运动模块的第一/第二预设安装位处，以使机械运动模块在执行机械运动的过程中，带动第一/第二测量模块执行至少一个维度上同步随动的机械运动，实现对容器中物料表面的多角度扫描；控制模块至少用于获取并根据微波信号和/或激光信号解析出容器状态，并根据容器状态及微波信号和/或激光信号计算出物料表面的精密三维空间信息以及精密物料信息。本申请能够克服现有单个测量原理的3D扫描雷达扫描精度与恶劣环境适应性难以兼顾的问题。
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公开(公告)号：CN113155235B
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202110533608.0
申请日：2021-05-17
申请人： 北京锐达仪表有限公司
IPC分类号： G01F23/284 , G01S7/41
摘要： 本公开提供一种基于多波束的物位测量方法，包括：生成多个波束，多个波束至少包括第一波束以及第二波束，第一波束具有第一波束角，第二波束具有第二波束角；至少获取第一波束的回波信号曲线以及第二波束的回波信号曲线；至少基于第一波束的回波信号曲线以及第二波束的回波信号曲线对干扰物回波信号及目标物回波信号进行识别；以及，至少基于第一波束的回波信号曲线以及第二波束的回波信号曲线去除干扰物回波信号以获得目标物回波信号。本公开还提供一种多波束物位计。
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公开(公告)号：CN115421131B
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211372909.0
申请日：2022-11-04
申请人： 北京锐达仪表有限公司
摘要： 本发明公开了一种等效多位置无死角的电磁波3D扫描雷达及物料测量方法。电磁波3D扫描雷达包括波束发射/接收装置和信号发生/处理装置；波束发射/接收装置基于信号发生/处理装置生成的第一初始微波信号，发射第一发射波束；第一发射波束经内壁至少一次反射后到达物料的表面；第一发射波束经物料反射，形成第一回射波束；第一回射波束经内壁至少一次反射后被波束发射/接收装置接收并上传信号发生/处理装置；信号发生/处理装置至少根据第一回射波束的信号特征、电磁波3D扫描雷达的安装位置信息和内壁的位置信息获取物料的表面的空间信息。本发明在不增加安装工作量、系统成本和系统复杂程度的基础上，提高了3D扫描雷达的三维测量精度。
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