发明公开
- 专利标题: 试验段亚声速流场品质评估方法、电子设备及存储介质
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申请号: CN202310669169.5申请日: 2023-06-07
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公开(公告)号: CN116659802A公开(公告)日: 2023-08-29
- 发明人: 张刃 , 崔晓春 , 朱亚楠
- 申请人: 中国航空工业集团公司沈阳空气动力研究所
- 申请人地址: 辽宁省沈阳市皇姑区阳山路1号
- 专利权人: 中国航空工业集团公司沈阳空气动力研究所
- 当前专利权人: 中国航空工业集团公司沈阳空气动力研究所
- 当前专利权人地址: 辽宁省沈阳市皇姑区阳山路1号
- 代理机构: 哈尔滨市伟晨专利代理事务所
- 代理商 韩立岩
- 主分类号: G01M9/06
- IPC分类号: G01M9/06 ; G01M9/08
摘要:
试验段亚声速流场品质评估方法、电子设备及存储介质,属于实验空气动力学领域。为减少开槽壁槽缝型面或开孔壁开孔分布对比分析工作的复杂性。本发明采用改进的Keller面元法计算试验段亚声速流场的扰动速度基本解,构建试验段亚声速流场的扰动速度数据库;使用奇点法构建试验模型的表达式;计算试验模型的升力效应的奇点强度;计算试验模型的堵塞效应的奇点强度;将试验模型的升力效应的奇点强度用于计算模型和支撑的升力效应,试验模型的堵塞效应的奇点强度用于计算模型和支撑的堵塞效应,升力效应和堵塞效应共同构成试验段透气壁对流场的扰动。本发明可以适用于各种类型的试验段壁板的亚声速流场品质评估,操作简单、计算效率高。