Invention Publication
CN116660363A 一种基于低频漏磁的无损检测笔
无效 - 撤回
- Patent Title: 一种基于低频漏磁的无损检测笔
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Application No.: CN202310645837.0Application Date: 2023-06-02
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Publication No.: CN116660363APublication Date: 2023-08-29
- Inventor: 杨娇 , 沈常宇 , 朱彬 , 朱周洪 , 周俊 , 王兆坤 , 袁非易 , 李晟如 , 张瑞萌 , 李想
- Applicant: 中国计量大学
- Applicant Address: 浙江省杭州市钱塘区学源街258号
- Assignee: 中国计量大学
- Current Assignee: 中国计量大学
- Current Assignee Address: 浙江省杭州市钱塘区学源街258号
- Main IPC: G01N27/83
- IPC: G01N27/83

Abstract:
本发明公开了一种基于低频漏磁的无损检测笔,其特征在于:由开关、电池、信号发生模块、信号放大器、磁轭、线圈、霍尔元件阵列、聚磁器、磁屏蔽层、信号调理模块、无线通信、计算机、外壳、滑轨组成;信号发生模块由单片机、FPGA、电平交换电路、MAX295芯片、低通滤波器、幅度调节电路组成;信号调理模块由高通滤波器、时钟发生器、抗混叠滤波器、模拟多路器、A/D转换器组成;电池产生信号经过信号发生模块,由信号放大器放大,在空间产生电磁场,在缺陷地方形成漏磁场,泄漏磁经过磁屏蔽层和聚磁器被霍尔元件阵列捕捉,通过信号调理模块,无线通信传送到计算机上进行处理。本发明从多角度对漏磁信号调理,为缺陷识别提供完善的信号,增加便利。
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