本申请提供一种宽频瞬态干扰测量影响因素验证方法及装置，属于芯片电磁兼容测量技术领域。方法包括：构建初始验证装置；采用初始验证装置测量得到校准波形；根据初始验证装置构建第二验证装置；在无屏蔽环境下，采用第二验证装置测量得到第一瞬态干扰波形；在屏蔽环境下，采用第二验证装置测量得到第二瞬态干扰波形；根据第二验证装置构建第三验证装置；在屏蔽环境下，采用第三验证装置测量得到第三瞬态干扰波形；根据第三验证装置构建第四验证装置；在屏蔽环境下，采用第四验证装置测量得到第四瞬态干扰波形；根据校准波形、第一瞬态干扰波形、第二瞬态干扰波形、第三瞬态干扰波形和第四瞬态干扰波形确定影响宽频瞬态干扰测量的因素。