发明公开
- 专利标题: 一种窄带滤光片光谱空间的均匀性检测装置及方法
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申请号: CN202310829884.0申请日: 2023-07-07
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公开(公告)号: CN116735166A公开(公告)日: 2023-09-12
- 发明人: 韩琳 , 孟炳寰 , 程伟华 , 向光峰 , 孙亮 , 骆冬根 , 裘帧炜 , 洪津
- 申请人: 中国科学院合肥物质科学研究院
- 申请人地址: 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号
- 专利权人: 中国科学院合肥物质科学研究院
- 当前专利权人: 中国科学院合肥物质科学研究院
- 当前专利权人地址: 安徽省合肥市蜀山区蜀山湖路350号
- 代理机构: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司
- 代理商 陆丽莉; 何梅生
- 主分类号: G01M11/02
- IPC分类号: G01M11/02 ; G01J3/447 ; G01J3/02
摘要:
本发明提供了一种窄带滤光片光谱空间的均匀性检测装置及方法,该装置包括积分球,参考带通滤光片、物方视场光阑、物方远心物镜、面阵CCD探测器、窄带滤光片样品安装组件、数据采集系统,其中,物方远心物镜包括前镜筒组件和后镜筒组件;窄带滤光片样品安装组件放置在前镜筒组件的物方远心光路中,CCD探测器位于物方远心镜头焦平面。本发明通过对比有窄带滤光片样品与无窄带滤光片样品两种情况下数据采集系统采集得到的光谱响应值,从而获取窄带滤光片光谱空间的均匀性。本发明装置结构简单,无需运动机构,单次检测即可获取窄带滤光片的光谱空间均匀性,检测效率高,节省了时间和人力成本,特别适用于批量化测量。