Invention Grant
- Patent Title: 基于多谐波的电磁泄漏辐射源指纹提取与识别方法及装置
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Application No.: CN202311016785.7Application Date: 2023-08-14
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Publication No.: CN116738259BPublication Date: 2023-11-07
- Inventor: 刘文斌 , 范平志 , 周正春 , 李雨锴
- Applicant: 西南交通大学
- Applicant Address: 四川省成都市二环路北一段111号
- Assignee: 西南交通大学
- Current Assignee: 西南交通大学
- Current Assignee Address: 四川省成都市二环路北一段111号
- Agency: 北京集智东方知识产权代理有限公司
- Agent 陈攀
- Main IPC: G06F18/23
- IPC: G06F18/23 ; G06F18/213 ; G06F18/22 ; G06F18/2433 ; G06F18/25
Abstract:
本发明提供了一种基于多谐波的电磁泄漏辐射源指纹提取与识别方法及装置,涉及信号检测技术领域,包括:获取第一信息、第二信息和第三信息;对第一信息中每个辐射源信号的不同频率的谐波信号进行聚类处理得到目标信号集;根据目标信号集得到第一指纹特征集;根据第二信息和第一指纹特征集从第二信息中提取出与第一指纹特征集中每个第一指纹特征关联的异常信号得到异常信号集;根据目标信号集和异常信号集进行时频多维度特征提取和特征融合处理得到综合指纹特征集;根据综合指纹特征集构建得到电子设备状态识别模型,并得到识别结果。本发明通过整合各种指纹特征,使得识别过程更加智能化和自动化,提高了处理效率和智能化水平。
Public/Granted literature
- CN116738259A 基于多谐波的电磁泄漏辐射源指纹提取与识别方法及装置 Public/Granted day:2023-09-12
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