发明公开
- 专利标题: 纹理表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质
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申请号: CN202310815564.X申请日: 2023-07-04
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公开(公告)号: CN116758046A公开(公告)日: 2023-09-15
- 发明人: 孟凡武 , 马梁 , 谢磊 , 马鑫 , 尚妍
- 申请人: 北京理工大学
- 申请人地址: 北京市海淀区中关村南大街5号
- 专利权人: 北京理工大学
- 当前专利权人: 北京理工大学
- 当前专利权人地址: 北京市海淀区中关村南大街5号
- 代理机构: 北京超凡宏宇知识产权代理有限公司
- 代理商 曹延鹏
- 主分类号: G06T7/00
- IPC分类号: G06T7/00 ; G06V10/54 ; G06V10/80
摘要:
本发明提供了一种纹理表面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质,涉及缺陷检测技术领域,包括:获取纹理表面图像,提取纹理表面图像的纹理特征;对纹理特征进行融合得到融合特征,基于融合特征和特征字典确定纹理表面的缺陷;其中,特征字典基于无缺陷图像训练获得,特征字典包括多个无缺陷的多层次特征。通过获取纹理表面图像,提取纹理表面图像的纹理特征,再对纹理特征进行融合得到融合特征,利用融合特征和基于无缺陷图像训练获得特征字典确定纹理表面的缺陷,提高了纹理表面缺陷检测的效率和准确性,避免了无法收集大量缺陷图像导致缺陷检测不准确以及效率低的问题。