发明公开
- 专利标题: Z轴运动平台及半导体缺陷检测设备
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申请号: CN202310590912.8申请日: 2023-05-23
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公开(公告)号: CN116759371A公开(公告)日: 2023-09-15
- 发明人: 张禧晨
- 申请人: 东方晶源微电子科技(北京)有限公司
- 申请人地址: 北京市大兴区北京经济技术开发区经海四路156号院12号楼
- 专利权人: 东方晶源微电子科技(北京)有限公司
- 当前专利权人: 东方晶源微电子科技(北京)有限公司
- 当前专利权人地址: 北京市大兴区北京经济技术开发区经海四路156号院12号楼
- 代理机构: 北京汇知杰知识产权代理有限公司
- 代理商 张婷婷; 杨彦鸿
- 主分类号: H01L21/687
- IPC分类号: H01L21/687 ; G01N23/00
摘要:
本申请提供一种Z轴运动平台及半导体缺陷检测设备,Z轴运动平台包括:下连接板;上连接板,在垂直方向上与下连接板相对设置并滑动连接于下连接板;载物平台,在垂直方向上设置于上连接板上方;第一调节装置,用于驱动下连接板沿水平方向运动,以使上连接板和载物平台沿垂直方向运动;第二调节装置,设置于载物平台和上连接板之间,用于在垂直方向上带动载物平台相对上连接板运动。第一调节装置可在相对精度较低的应用场景运行,即第一调节装置可以取得更快的响应和更大的行程,第二调节装置可获得更细致的调节精度,由于第一调节装置和第二调节装置的协同作用,可提高Z轴运动平台的功能域。
IPC分类: