发明公开
- 专利标题: SiC MOSFET物理模型构建方法、设备及存储介质
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申请号: CN202311100643.9申请日: 2023-08-30
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公开(公告)号: CN116861833A公开(公告)日: 2023-10-10
- 发明人: 杨鑫 , 王潇迪 , 王岳松
- 申请人: 湖南大学
- 申请人地址: 湖南省长沙市岳麓区麓山南路1号
- 专利权人: 湖南大学
- 当前专利权人: 湖南大学
- 当前专利权人地址: 湖南省长沙市岳麓区麓山南路1号
- 代理机构: 长沙正奇专利事务所有限责任公司
- 代理商 王娟; 曾利平
- 主分类号: G06F30/367
- IPC分类号: G06F30/367 ; G06N3/006
摘要:
本发明公开了一种SiC MOSFET物理模型构建方法、设备及存储介质,所述构建方法包括根据SiC MOSFET的静态特性和温度特性构建SiC MOSFET的沟道电流模型;根据SiC MOSFET的结构参数构建导通电阻模型;根据漏源电压、栅源电压以及温度,构建SiC MOSFET的非线性寄生电容模型;根据所述沟道电流模型、导通电阻模型以及非线性寄生电容模型构建SiC MOSFET物理模型;识别出所述SiC MOSFET物理模型的参数。本发明构建的模型具有更高的准确性和普适性,为包含SiC MOSFET器件的电力电子系统仿真方法提供依据。
公开/授权文献
- CN116861833B SiC MOSFET物理模型构建方法、设备及存储介质 公开/授权日:2024-01-30