发明公开
- 专利标题: 一种天线姿态快速测量系统及方法
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申请号: CN202311199170.2申请日: 2023-09-18
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公开(公告)号: CN116929289A公开(公告)日: 2023-10-24
- 发明人: 王虎 , 林上民 , 乔江 , 金玉 , 薛要克
- 申请人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 申请人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 代理机构: 西安智邦专利商标代理有限公司
- 代理商 王少文
- 主分类号: G01C1/00
- IPC分类号: G01C1/00 ; G01R29/10
摘要:
本发明涉及一种天线姿态快速测量系统及方法;解决通过射电扫描测量,通过扫描校准源以确定最强信号位置,再与理论目标位置进行比较得到指向偏差的测量方法,存在占用望远镜观测时间的问题,测量系统包括数据处理单元、立体标定单元、至少两个探测器测量单元以及多个目标标志物单元;目标标志物单元设置在待测天线系统的天线主反射面背面;探测器测量单元设置在待测天线系统的周侧外;立体标定单元设置在待测天线系统的天线主反射面的中心正下方;任一相邻两个探测器测量单元存在视场交汇区,且视场交汇区内至少有一个目标标志物单元,所有视场交汇区内,目标标志物单元的总数≥3;数据处理单元与探测器测量单元电连接;本发明还提出测量方法。
公开/授权文献
- CN116929289B 一种天线姿态快速测量系统及方法 公开/授权日:2024-01-05