一种天线姿态快速测量系统及方法

    公开(公告)号:CN116929289B

    公开(公告)日:2024-01-05

    申请号:CN202311199170.2

    申请日:2023-09-18

    IPC分类号: G01C1/00 G01R29/10

    摘要: 本发明涉及一种天线姿态快速测量系统及方法;解决通过射电扫描测量,通过扫描校准源以确定最强信号位置,再与理论目标位置进行比较得到指向偏差的测量方法,存在占用望远镜观测时间的问题,测量系统包括数据处理单元、立体标定单元、至少两个探测器测量单元以及多个目标标志物单元;目标标志物单元设置在待测天线系统的天线主反射面背面;探测器测量单元设置在待测天线系统的周侧外;立体标定单元设置在待测天线系统的天线主反射面的中心正下方;任一相邻两个探测器测量单元存在视场交汇区,且视场交汇区内至少有一个目标标志物单元,所有视场交汇区内,目标标志物单元的总数≥3;数据处理单元与探测器测量单元电连接;本发明还

    一种基于目标平面边缘特性的姿态测量系统及方法

    公开(公告)号:CN116952129A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202310793998.4

    申请日:2023-06-30

    IPC分类号: G01B11/00

    摘要: 本发明提出了一种基于目标平面边缘特性的姿态测量系统及方法,以解决现有采用激光跟踪仪存在测量距离越长,精度越低,维护成本较高的问题;采用摄影测量法存当测量周期长的问题;系统包括激光束发射系统、特征识别模块;测量系统通过激光束发射系统发出三组以上的光束照射含明确平面特性的待测动目标,利用特征识别模块识别目标平面上的光斑信息,将获取到的含完整目标平面边缘信息以及激光点斑的相对二维位置信息,通过图像处理的方式快速定义出光斑质心的二维坐标,耦合激光束的三维空间直线信息,直接得到激光束与目标靶面相交光斑点空间三维坐标,进而获取待测动目标的三维姿态信息,最终完成动目标快速、高精度的位姿测量。

    一种天线姿态快速测量系统及方法

    公开(公告)号:CN116929289A

    公开(公告)日:2023-10-24

    申请号:CN202311199170.2

    申请日:2023-09-18

    IPC分类号: G01C1/00 G01R29/10

    摘要: 本发明涉及一种天线姿态快速测量系统及方法;解决通过射电扫描测量,通过扫描校准源以确定最强信号位置,再与理论目标位置进行比较得到指向偏差的测量方法,存在占用望远镜观测时间的问题,测量系统包括数据处理单元、立体标定单元、至少两个探测器测量单元以及多个目标标志物单元;目标标志物单元设置在待测天线系统的天线主反射面背面;探测器测量单元设置在待测天线系统的周侧外;立体标定单元设置在待测天线系统的天线主反射面的中心正下方;任一相邻两个探测器测量单元存在视场交汇区,且视场交汇区内至少有一个目标标志物单元,所有视场交汇区内,目标标志物单元的总数≥3;数据处理单元与探测器测量单元电连接;本发明还提出测量方法。