本发明涉及超大规模数字集成电路测试领域，具体涉及一种灵活配置片内扫描链的互连测试结构。包括：分段边界扫描链模块，将片内所有的扫描链按照互连对象进行划分；TAP控制器模块，用于根据JTAG输入信号，控制内部测试电路的动作；同时接入扫描链重定向控制模块，以生成扫描链重定向需要的控制使能信号；扫描链重定向控制模块，用于实现扫描链的灵活配置和旁路多余的扫描链；包括：配置寄存器链、双向互连测试控制模块和测试输出TDO控制逻辑。本发明解决互连测试扫描链含有无效段、无法同时进行双向互连测试以及多芯粒场景只能多次配置两两测试的问题。